仪器信息

主要技术指标 离子淌度，即ion mobility spectrometry，IMS，其核心原理是电场驱动下离子在气体阻尼环境中的迁移速率差异。当这项技术与质谱仪结合时，IMS-MS就成为了功能更强大的分析工具。离子淌度给传统质谱增加了新的分离维度，信噪比提高，可分辨同分异构体、多电荷态。捕集式离子淌度质谱(Tims-Q-TOF MS)具有全新的离子淌度技术，可在高分辨率、高质量精确度下分析复杂样品中的化合物结构。可以分离混合物中的同分异构体，精确测定CCS以及气相化合物的结构。此外，可获得清晰的二级碎片谱图，辅助结构鉴定。配备实时直接分析质谱离子源，可直接分析离子液体含盐体系样品、特殊含能样品等。