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场发射扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜
英文名称:Field Emission Scanning Electron Microscope(SEM)
产地国别:
制造商:
运行状态: 正常
启用日期:
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仪器信息
厂商及规格型号
S-4800
性能参数
1.加速电压:0.5KV-30kV 2.放大倍数;25-80万倍 3.分辨率:1.0nm(15kV)、1.4nm(1kV) 4.能谱元素分析范围:Be4-U92
电话咨询
15110071233;15724744769
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