仪器信息

厂商及规格型号 SEM3200A
性能参数 二次电子分辨率：3 nm@30kV； 背散射电子分辨率：4 nm@30kV； 加速电压：0.2—30 kV 放大倍数：1×—1, 000, 000×
主要功能 1. 低电压低真空实验条件 可以在低真空下观察不导电样品； 2. 智能辅助消像散 直观反映整个视野的像散程度，通过鼠标点击清晰处，可快速调节像散至最佳； 3. 多种信息同时成像 软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息； 4. 手势快捷导航 可通过双击移动、鼠标中键拖动、框选放大，进行快捷导航。