仪器信息
性能参数 | 点分辨率:≤ 0.23 nm @200 kV; 线分辨率:≤ 0.10 nm @200 kV; HAADF分辨率:≤ 0.16 nm @200 kV; EDX能量分辨率:≤ 129 eV 加速电压:20-200 kV 放大倍数:TEM模式:20×—2, 000, 000× STEM模式:200×—150, 000, 000 × 双倾样品杆最大倾角:±35°α / ±30°β |
主要功能 | 1. 四级聚光镜系统 采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。 2. 皮米样品台驱动 能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野—从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。 3. 电子光路快速切换 TEM/EDX/NBD/CBD模式一键式切换,通过键盘和旋钮控制电子束汇聚角角度变化 4. 多图像显示 可以实现STEM-HAADF等的同时采集和记录,同时显示多幅图像,方便对比观察。 5. 样品杆自动更换 点击按钮即可实现样品杆的全自动进入和推出,同时兼具手动更换方式。 |