仪器信息

性能参数 点分辨率：≤ 0.23 nm @200 kV； 线分辨率：≤ 0.10 nm @200 kV； HAADF分辨率：≤ 0.16 nm @200 kV； EDX能量分辨率：≤ 129 eV 加速电压：20-200 kV 放大倍数：TEM模式：20×—2, 000, 000× STEM模式：200×—150, 000, 000 × 双倾样品杆最大倾角：±35°α / ±30°β
主要功能 1. 四级聚光镜系统 采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”，通过分别控制电子束强度和汇聚角，能满足各种研究的需求。 2. 皮米样品台驱动 能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive（不用压电驱动），能在宽动态范围移动视野—从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。 3. 电子光路快速切换 TEM/EDX/NBD/CBD模式一键式切换，通过键盘和旋钮控制电子束汇聚角角度变化 4. 多图像显示 可以实现STEM-HAADF等的同时采集和记录，同时显示多幅图像，方便对比观察。 5. 样品杆自动更换 点击按钮即可实现样品杆的全自动进入和推出，同时兼具手动更换方式。