仪器信息

厂商及规格型号 Talos F200X G2
性能参数 点分辨率：≤ 0.25 nm @200kV； 线分辨率：≤ 0.10 nm @200kV； STEM分辨率：≤ 0.16 nm @200kV, ≤ 0.31 nm @80kV； EELS能量分辨率：≤ 0.8 eV 加速电压：20-200 kV 放大倍数：TEM模式：25×—1.05M STEM模式：290×—330M 双倾样品杆最大倾角：±35°α / ±30°β
主要功能 1. 超稳定高亮度电子枪(X-FEG) 相较于普通肖特基电子枪，在汇聚相同尺寸束斑时束流强度为后者的5倍，可以获得更高信噪比和分辨率的TEM、STEM图像和EDX图谱。 2. 多维度EDX表征 采用构合映射的2D/3D化学表征由具有独特清洁度的4个柱内SDD Super-X探头执行，在所有维度下均可实现快速精准的EDX分析，每秒可收集105幅能谱。。 3. 大尺寸拼图 Thermo Scientific Maps 软件可以自动采集样品的一系列图像，并将它们拼接在一起以形成一幅大尺寸最终图像，甚至可以在无人值守的情况下进行图像采集。 4. 原位实验 兼容多功能原位实验样品杆。 5. iDPC功能 通过iDPC (Integrated Differential Phase Contrast, iDPC)成像技术可以实现轻/重原子同时STEM成像以及电子束敏感材料成像。 6. 漂移校正样品台 压电陶瓷样品台可以确保高灵敏度，无漂移成像和精确样品导航。