仪器信息
| 厂商及规格型号 | 515 Versa |
| 性能参数 | 三维空间分辨率为0.5μm 最小可实现的体素为40nm X射线源电压可调范围为30kV~160Kv 能够实现2048×2048以上的像素成像和三维重构 三维数据可视化软件可以展示包括虚拟断层，着色、渲染、透视等三维重构结果 配置原位实验台，进行原位拉伸、压缩和加热试验，同时进行X射线成像扫描 |
| 主要功能 | 1. 仪器采用二级放大设计，针对大样品也能做到高分辨 2. 配有16bit噪声抑制闪烁体耦合探测器, 探测器能够实现2048×2048以上的像素成像和三维重构 3. 先进的吸收衬度和创新的相位衬度，可实现对软材料或低原子序数材料3D成像 4. 在保证图像质量条件下的高通量 5. 配置原位实验台，进行原位拉伸、压缩和加热试验，在此同时进行X射线成像扫描 |
